检测项目
1.外观与结构完整性:表面裂纹,边角破损,封装变形,引脚偏移,层间剥离。
2.抗弯韧性:弯曲载荷承受能力,弯曲后开裂情况,受弯后电性能变化,基体断裂倾向。
3.抗冲击性能:瞬时冲击耐受性,冲击后外壳损伤,内部连接松动,功能保持能力。
4.抗拉与抗压性能:拉伸承载能力,压缩变形程度,受力后裂纹扩展,结构恢复情况。
5.焊点韧性:焊点开裂,焊接界面结合状态,焊点受力失效,焊盘附着稳定性。
6.引脚与端头机械强度:引脚抗折能力,端头附着牢固性,受力位移,引出端断裂风险。
7.热冲击适应性:冷热交替后裂纹变化,封装应力响应,材料界面损伤,尺寸稳定性。
8.温湿环境耐受性:湿热后开裂倾向,吸湿膨胀影响,绝缘部位损伤,腐蚀诱发缺陷。
9.振动耐久性:持续振动后结构松动,连接部位疲劳,内部裂隙发展,性能波动。
10.疲劳寿命:循环受力寿命,微裂纹萌生,疲劳断裂特征,性能衰减过程。
11.封装结合强度:封装层附着状态,界面剥离,内部空隙影响,受力传递稳定性。
12.材料断裂特征:脆性断裂形貌,韧性断裂形貌,断口扩展路径,失效区域判定。
检测范围
片式电阻、片式电容、片式电感、陶瓷电容、钽电容、晶体管、二极管、整流器、集成电路、电连接器、继电器、晶振、保险元件、传感器、功率器件、发光器件、磁性元件、贴片元件、插件元件、封装芯片
检测设备
1.万能材料试验机:用于测定元器件在拉伸、压缩、弯曲等受力条件下的力学响应和破坏特征。
2.微小力试验机:用于小尺寸元器件的精细加载检测,可测试细微结构部位的韧性表现。
3.冲击试验装置:用于模拟瞬时冲击作用,观察元器件在冲击条件下的损伤状态和功能变化。
4.振动试验装置:用于施加连续振动应力,检测连接结构、封装部位及内部构造的耐久能力。
5.冷热冲击试验箱:用于模拟温度快速变化环境,测试材料界面及封装结构的开裂和剥离风险。
6.恒温恒湿试验箱:用于考察元器件在湿热环境中的吸湿、膨胀、腐蚀及结构稳定情况。
7.金相显微镜:用于观察截面组织、裂纹形貌、界面状态及细微损伤分布情况。
8.体视显微镜:用于对外观缺陷、边缘破损、引脚变形和表面裂纹进行放大检测。
9.断面制样设备:用于制备元器件截面样品,便于分析内部层次结构、焊接界面和损伤区域。
10.电参数测试装置:用于检测受力前后元器件电学性能变化,辅助判断结构损伤对使用状态的影响。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。